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Microscopia Elettronica e Microanalisi EDS

Il microscopio elettronico a scansione ZEISS EVO MA10 (SEM) ad alta risoluzione con sorgente termoionica LaB6, opera sia ad alto vuoto, sia a pressione variabile, consentendo così l’analisi di tutti i materiali sia conduttivi che non conduttivi. È inoltre dotato di un sistema di microanalisi Oxford X-Max basato sulla spettroscopia a dispersione di energia (EDS) avanzato che fornisce i dati qualitativi e semi-quantitativi del campione da analizzare. È possibile ottenere informazioni topografiche dai campioni grazie al rilevatore elettronico secondario per alto vuoto e informazioni sulla composizione grazie al rilevatore di elettroni retrodiffusi (BSE) per alto e basso vuoto. È anche possibile eseguire analisi chimiche su profili per determinare i gradienti composizionali, o mappatura di elementi su immagini bidimensionali, utili per associare fasi e composizione. I materiali analizzati possono essere di svariata natura e interesse geologico (minerali, vetri vulcanici, fossili), archeologico (ceramiche, metalli, ossa), ambientale e tecnologico (nuovi materiali, conduttori), medico (fibre e polveri, denti, calcoli etc). 

Sede di appartenenza + _
CNR IGAG c/o Dipartimento di Scienze della Terra, Sapienza Università di Roma
Referente del laboratorio + _

Dott. Biagio Giaccio

Preposto per la sicurezza + _
Dott. Matteo Paciucci
Recapito telefonico + _
06.49914099
LISTA STRUMENTAZIONI

Microscopio elettronico a scansione ZEISS EVO MA10 con microanalisi EDS Oxford X-Max
Metallizzatore (sputtering and carbon coating) Quorum Q150R ES PLUS

Sede Cagliari
Sede Milano
Sede Montelibretti
Sede Roma